チップ間インターフェースビットエラーレート測定器 一式

、納入期限は令和9年2月26日。参加資格は全省庁統一資格の物品製造・販売A～C等級を関東・甲信越地域で保有していることが必要。

【調達内容】

- 案件A: 走査型電子顕微鏡（FE-SEM）EBSDシステム 一式（納期: 令和9年3月31日）

- 案件B: 小型二軸コニカル押出・ロール成形一体型装置 一式（納期: 令和8年10月20日）

- 案件C: 原子層堆積システム 一式（納期: 令和9年3月19日）

- 案件D: チップ間インターフェースビットエラーレート測定器 一式（納期: 令和9年2月26日）

- 案件A、B、Dは東京大学大学院工学系研究科に納入

- 案件Cは東京大学生産技術研究所に納入

- 各案件の詳細仕様は入札説明書による

【応募要件】

・国立大学法人東京大学の契約事務取扱規程第2条及び第3条の規定に該当しない者

・全省庁統一資格において令和8年度に関東・甲信越地域の「物品の製造又は物品の販売」のA、B又はC等級に格付けされている者

・製造物品に関する研究体制及び迅速なアフターサービス・メンテナンスの体制が整備されていることを証明できる者

・入札説明書で指定する内容等を満たす者

・総長から取引停止の措置を受けている期間中でない者

・本公告に示した物品を納入できることを証明する書類を令和8年7月27日17時00分までに提出すること

【入札スケジュール】

入札説明書交付: 令和8年7月1日から東京大学ホームページにて電子ファイルで配布

書類受領期限: 令和8年7月27日17時00分

入札・開札日時:

- 案件A: 令和8年8月20日14時30分（電子入札・リバースオークション）

- 案件B: 令和8年8月20日15時00分（電子入札・リバースオークション）

- 案件C: 令和8年8月20日16時00分（電子入札・リバースオークション）

- 案件D: 令和8年8月20日16時30分（電子入札・リバースオークション）

入札方式: リバースオークションシステムに税抜価格（契約金額の110分の100相当額）を入力